銅厚全自動測定装置 CTM-5040 | パターン設計開発支援サイト

銅厚全自動測定装置  CTM-5040

*高精細パターン基板     *インピーダンスコントロール基板       製造の必需品!

特長1特性インピーダンスパターンの増大

±10% の精度から  ±5% の要求の可能性がある

 

メッキ厚までのコントロールが必要な製品がある

 

特長2ガーバー基準で測定ポイント指示

・ガーバー基準で測定ポイント指示

・1/100μm単位での自動測定

 ・測定データのExcel出力

 ・膜厚測定結果の3次元モニター表示

特長3圧延銅やメッキ銅、金属薄膜の厚みを測定する為に開発

特殊プローブを使用して、

ケルビン法により測定された低抵抗値を、演算式に基づき膜厚値に換算

 

特長418μ銅張積層板の9ポイント測定

 

 

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