銅厚全自動測定装置 CTM-5040 | パターン設計開発支援サイト
銅厚全自動測定装置 CTM-5040
*高精細パターン基板 *インピーダンスコントロール基板 製造の必需品!

特長1 特性インピーダンスパターンの増大
±10% の精度から ±5% の要求の可能性がある
メッキ厚までのコントロールが必要な製品がある

特長2 ガーバー基準で測定ポイント指示
・ガーバー基準で測定ポイント指示
・1/100μm単位での自動測定
・測定データのExcel出力
・膜厚測定結果の3次元モニター表示

特長3 圧延銅やメッキ銅、金属薄膜の厚みを測定する為に開発
特殊プローブを使用して、
ケルビン法により測定された低抵抗値を、演算式に基づき膜厚値に換算

特長4 18μ銅張積層板の9ポイント測定
