■実装基板上の電流から発生するノイズ源を高精度に測定・評価 近傍界測定システム(NES-300)
○概要
実装基板上の電流から発生するノイズ源を高精度に測定・評価する為の測定装置です。 装置本体は、広帯域電波暗箱内に設置し、外来ノイズや反射を抑えた最適な空間を ご提供します。高密度実装された基板のEMI対策及び、設計ツールとしてお役立て下さい。
○用途
・携帯電話を始めとした電子機器等に搭載される実装基板のEMI対策
・電子機器の基板設計ツール
・各種無線機器のアンテナ設計、検査ツール
・完成品の最終動作確認試験、検査用等
○技術ポイントと効果
・高さを含めた高精度3次元測定が可能
・電波暗箱内測定の為、安定した測定が可能
・小型なので実験室で測定が可能
・専用コントローラによって、制御PCとの接続はシンプル構成
・各種測定器(スペアナ、SG、ネットアナ)に対応可能
・測定プローブは標準品以外でも装着可能
・DEMITASNX(NEC)と連携(データリンク)
○特徴
１．カメラ画像＋高精度な3D測定データの重ね合わせによる解析 (編集作業等行うことなく、ノイズ特定箇所を瞬時に見極める事が可能)
２．XYZ軸のスキャンエリアが300mmと大きい為、ノートPC等の最終製品を そのまま測定する事が可能
３．電波暗箱内での測定による外来ノイズと反射の低減を行い、電波環境の厳しい実験室内にも設置可能 (電波暗箱はシミュレーション技術による最適環境の設計)
４．GUIの使い易さ
測定条件の入力手順の自動化
PC画面のカメラ画像を見ながら測定エリアを指定するだけで測定が可能
測定データは、エクセルデータとして保存できる為、自由に編集可能
基板設計ソフト(シミュレーションソフト)とデータリンクが可能
５．ご要望に応じた柔軟なハード＆ソフトのカスタマイズ対応
