インサーキットテスター | パターン設計開発支援サイト

■インサーキットテスター 

 はんだ付け検査後に調整を必要とする回路では、
 プリント配線板内にテストランドを設け、 電気検査を行いつつ調整していた。
 
 さらに、搭載部品そのものが指定された定数の部品かを確認する機能も
 この検査装置に組込んで検査していた。 
 
 さらに、
 IC内部にテスト用回路を設けてテストする方法も検討され実用化された。 
 
 近年では回路がアナログからデジタルに変わり、調整機能もアナログの
 可変抵抗器からデジタルのメモリICに変わったため、予めメモリに信号を
 記憶させた後にプリント配線板にデジタル信号を入力し、その出力回路の
 信号を確認するテストへと変わってきた。 
 
 このようにはんだ付け品質を検査し、次にインサーキットテスタで機能確認
 するのではなく、一括してインサーキットテスタで検査するようになってきた
 のは、はんだ付け品質で不良が出ても修理が出来ない状況になった為である。 
 
 このため、実装では各工程の品質管理を徹底する活動を行い、結果として
 部品・材料の受け入れ規定や規格化が進んだのである。

 

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